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PCB近場掃描儀支持多種操作模式進行工作探測
點擊次數：2004 更新時間：2020-07-01
PCB近場掃描儀采用*設備的中空懸臂式近場探針實現超越衍射極限的光學分辨率。其也具備*的兼容性和擴展性，可與共聚焦光學/拉面顯微鏡及原子力顯微鏡集成在同一臺儀器上，僅需旋轉物鏡轉輪即可實現不同模式切換。
其多可以同時進行四探針測試，光纖探針各自獨立控制，可以同時分別、獨立進行如滴液、加壓，電學，熱學方面的測試等不同的工作。
PCB近場掃描儀操作模式：
1.透射模式成像——樣品經過探針照明，光通過樣品并與樣品相互作用后被收集探測；
2.反射模式成像——樣品經過探針照明，光從樣品表面反射并被收集探測；
3.收集模式成像——樣品經遠場光源照明(從上或下面均可)，探針將光信號從樣品表面收集；
4.照明收集模式成像——用同一根探針同時進行照明和收集探測反射光；
特點：
1.高靈敏度，高分辨率，高動態范圍，能同時檢測極微量和高豐度樣品
2.硬件和軟件的校正功能，提高掃描質量
3.完整的16bit圖像，有利于準確定量
4.可選擇波長，以降低背景,增加靈敏度
5.多種掃描速率有利于更快的圖像攝錄
6.密封掃描平臺，應用廣泛：適用于濕膠,雜膠膜,膠片等各種應用
7.PCB近場掃描儀采用改進的透射方式，適合更厚的樣品分析
